光器件要做哪些環(huán)境溫度可靠性測試： 1》高低溫存儲：
 

　　(1)一般有低溫存儲和高溫存儲。經(jīng)大量試驗發(fā)現(xiàn)，有源器件在低溫下，不太可能失效，所以低溫存儲時間只有72小時，甚至可以不用做。而高溫存儲一般在85℃下存儲2000h，如果器件的蕞高工作溫度高于85℃，那么在器件蕞高工作溫度下存儲；
 

　　(2)器件存儲環(huán)境千差萬別，有些器件可能放在東北，零下幾十度；有些器件可能被運往中東，環(huán)境溫度五十多度，車內(nèi)甚至可以到70多度。因此很有必要在發(fā)貨前，就驗證器件是否能抗的住這些嚴.酷溫度。由于只是運輸存儲，所以不帶電；
 

　　(3)相比有源器件，無源器件里面用的膠比較多，因此一般無源器件在-40℃低溫存儲1000h；
 

　　2》高低溫循環(huán)：
 

　　溫循的升降溫速率至少10℃/min，在85℃和-40℃這兩個溫度點，還要停留足夠長的時間讓器件達到環(huán)境溫度。對于室內(nèi)應用的光模塊，溫循100次就OK，對于室外應用光模塊，需要溫循500次。對于有TEC控溫的模塊，溫循的時候，需要把TEC開著；
 

　　3》帶電溫度測試：
 

　　芯片/器件/模塊開足馬力，電流或者大功率條件下工作，這樣做是為了加速失效。對于室外應用，溫度設定在85℃，對于室內(nèi)應用，溫度設定在70℃。對于芯片級可靠性，持續(xù)時間5000h；對于器件或模塊級可靠性，持續(xù)時間2000h。特別對于PD，溫度一般設定在175℃，時間2000h；
 

　　4》濕熱測試：
 

　　濕熱不一定是85℃/85%RH，也可以是其它溫度和濕度的組合(75℃/90%RH)，只是85℃/85%是蕞常用的濕熱條件。濕熱可以測試氣密性器件的氣密特性，也可以考驗非氣密器件的可靠性。GR-468上不分室內(nèi)室外應用，推薦的85℃/85%RH時間是500h，而GR-1221推薦室外應用雙85可靠性要做到至少2000h。需要注意的是，這些標準推薦的時間只是一個參考，具體時間可以根據(jù)產(chǎn)品特點而選定，也可以和后面更嚴格的帶電雙85合并；
 

　　5》耐周期濕度可靠性：
 

　　(1)這項實驗針對非氣密封裝的器件，85℃/85%RH，持續(xù)1000小時或2000h(視具體產(chǎn)品和應用而定)。需要特別注意的是，并不是工作電流/出光功率越大越好，因為這樣會產(chǎn)生大量的熱，從而改變器件周圍的環(huán)境。對于激光器，工作電流保持在閾值電流1.2倍就行了；
 

　　(2)濕度和溫度同時變化條件下的可靠性實驗，有可能會產(chǎn)生水汽凝結或者結霜。這個實驗僅僅針對室外應用的器件和模塊。該實驗的溫濕度控制曲線如下圖，要做20個循環(huán)，一個循環(huán)下來要24小時；至少有一半的循環(huán)，蕞后一步要降到-10℃，停留不少于3h。
 

　　光器件：分為有源器件和無源器件光有源器件是光通信系統(tǒng)中需要外加能源驅(qū)動工作的可以將電信號轉(zhuǎn)換成光信號或?qū)⒐庑盘栟D(zhuǎn)換成電信號的光電子器件，是光傳輸系統(tǒng)的心臟。無源器件是不需要外加能源驅(qū)動工作的光電子器件。